Halbleiterphysik/ Strahlungswandlung
  
Uni Fakultäten Fk. V Physik GRECO Lehre HLSpektroskopie   

Seminar Halbleiterspektroskopie

Veranstaltungs-Nr.: 5.04.416

Titel: Halbleiterspektroskopie

Art: SE,VL,E,A

Veranstalter:PD Dr. Rudolf Brüggemann

Zeit und Ort: Do 10 - 12, W02 1-125

Interessenten: Physikstudierende im Hauptstudium (Diplom, MSEP)

Voraussetzungen: Kenntnisse in Halbleiterphysik/Festkörperphysik von Vorteil

Themen

Inhalt:
Das Seminar führt in die Methoden der Spektroskopie von Halbleitern ein, die für die moderne Optoelektronik von Interesse sind. Vortragsthemen behandeln die Bereiche Optische Spektroskopie mit IR- und Ramanspektroskopie, Ellipsometrie, Photolumineszenz, Absorption, Photoelektronenspektroskopie, Magnetische Resonanzspektroskopie mit Elektronenspinresonanz (ESR), Kernspinresonanz, nichtkonventionellen ESR-Methoden und Elektrische Spektroskopie mit sog. deep-level transient spectroscopy, Admittanzspektroskopie. Neben den Grundlagen werden jeweils auch aktuelle Probleme erörtert. Vortragsthemen können auch von Teilnehmenden vorgeschlagen werden. Bei geringer Teilnehmerzahl wird der Veranstalter auch Vorträge übernehmen.

Literatur:
  • H. Kuzmany, Festkörperspektroskopie : eine Einführung. Springer,1989. (Bibliothek)
  • H. Kuzmany, Solid-State Spectroscopy. An Introduction, Springer, 1998 (Bibliothek)
  • P. Y. Yu and M. Cardona. Fundamentals of Semiconductors: Physics and Material Properties Springer, Berlin, 2001.
  • Haarer/Spieß (Hrsg.), Spektroskopie amorpher und kristalliner Festkörper,Steinkopff Darmstadt 1995
  • G. Schatz/H. Weidinger, Nukleare Festkörperphysik, Teubner, 1997 (Einführungin ESR und NMR)
  • P. Blood, J.W. Orton, The Electrical Characterization of Semiconductors: Majority Carriers and Electron States (Techniques of Physics, Vol 14), AcademicPress, 1992.
  • J.W. Orton, P. Blood, The Electrical Characterization of Semiconductors: Measurement of Minority Carrier Properties (Techniques of Physics), AcademicPress, 1992.
  • Dieter K. Schroder, Semiconductor Material and Device Characterization, John Wiley & Sons, 1998.

Bemerkungen:
Im Rahmen des Seminarvortrags werden eine Vorbesprechung und eine Ausarbeitung für die Teilnehmenden (z.B. pdf-Datei) erwartet.



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